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                Ux-720 鍍層測厚儀
                Ux-720 鍍層測厚儀
                詳情說明 / Details

                功能及原理

                Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業界領先。

                采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

                Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

                X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

                Ux-720鍍層測厚儀采用了最新專利技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經得起科學驗證。


                可以實現全自動一鍵操作功能,準直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋隨意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報告自動彈出,供應商信息自動篩選和保存……

                 

                標準配件

                樣品固定支架1支

                窗口支撐薄膜:100張

                保險管:3支

                計算機主機:品牌+雙核

                顯示屏:19吋液晶

                打印機:噴墨打印機

                可選配件

                可升級為SDD探測器

                 

                樣品移動設計為樣品腔外部調節,多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。

                設計更科學,軟硬件配合,機電聯動,輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。

                軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

                 

                產品規格:

                測厚技術:X射線熒光測厚技術

                測量下限:0.003um

                測量上限:30-50um(以材料元素判定)

                測量層數:10層

                測量用時:30-120秒

                探測器類型:Si-PIN電制冷 

                探測器分辨率:145eV

                高壓范圍:0-50KV,50W

                X光管參數:0-50KV,50W,側窗類;

                光管靶材:Mo靶;

                濾光片:專用4種自動切換;

                CCD觀察:260萬像素

                微移動范圍:XY15mm

                輸入電壓:AC220V,50/60Hz

                測試環境:非真空條件

                數據通訊:USB2.0模式

                準直器:?0.5mm,?1mm,?2mm,?4mm

                軟件方法:FlexFP-Mult

                工作區:開放工作區自定義

                樣品腔:330×350×75mm 

                 

                應用領域

                用于電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業,專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析??蓪蛻魳悠峰儗幽ず駵y試、基材成分分析。


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